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Call for Papers



Deadline:  27. Oktober 2006

Download Call for Papers ZuD 2007.

Zum Einreichen der Beiträge verwenden Sie bitte ein elektronisches Tool, das sie über den folgenden Link erreichen: Papers für die ZuD.


 

Themenbereiche

 

Entwurfsmethodik

·         Robuster Entwurf

·         Synthesis for Reliability and Yield


Eingebettete Systeme

·         Systemzuverlässigkeit

·         Verfügbarkeit


Analoge Schaltungen

·         RF

·         Störsicherheit


Verifikation digitaler Systeme

·         Korrektheit

·         Nachweis von Fehlertoleranz und Zuverlässigkeitseigenschaften


Beschreibungssprachen und Modellierung

·         Modellierung von Fehlertoleranz und Zuverlässigkeit


Testmethoden und Diagnose

·         Defekt- und Fehleranalyse

·         Test, Diagnose und Fehlertoleranz

 

Layoutentwurf

·         Design for Manufacturability and Yield

·         Lithografiegerechter Entwurf

 

Es sind Teilbeiträge von ca. 20 Minuten Dauer mit an­schließender Diskussion sowie Poster vorge­sehen. Die angenommenen Beiträge werden in ei­nem zitierfähigen Tagungsband mit CD-ROM zu­sam­mengefasst.

Die Fachtagung ist auf Deutsch, es sind jedoch Bei­träge und Vorträge auf Englisch willkommen Die Beiträge sollten 8 Seiten umfassen. Es wird eine Möglichkeit zur elektronischen Einreichung geschaffen.

 

 

Hinweise für Autoren zur Erstellung von Tagungsbeiträgen

Für die Vorbereitung Ihres Tagungsbeitrags haben wir Mustervorlagen erstellt. Die Mustervorlage garantiert ein einheitliches Erscheinungsbild und erleichtert Ihnen die Arbeit durch automatisches Einhalten der Schriftformate, Umbrüche und Abstände.
Hier finden Sie Vorlagen in MS-WORD (zip) mit ausfüllbaren Mustervorlagen.
Bitte beachten Sie weiterhin diese Schreibanleitung (pdf), insbesondere die technischen Hinweise.

Bitte vergessen Sie auch nicht, die Copyright - Vereinbarung (pdf) zu lesen. Mit der Abgabe Ihres Vortrages an den VDE erklären Sie Ihr Einverständnis mit den dort genannten Bedingungen.

Weitere Informationen finden Sie hier. 

 
  
 









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